1. Sources d'Erreurs
1.1. Erreurs Systématiques
1.1.1. Imperfection du hardware de l'instrument
1.1.2. Imperfection du setup de mesure
1.1.3. Erreurs corrigeables
1.2. Erreurs Aléatoires
1.2.1. Bruit de mesure
1.2.2. Répétabilité des switchs, des connexions
1.2.3. Erreurs non corrigeables
1.3. Erreurs de Dérive
1.3.1. Variation de l'environnement de Test (température)
1.3.2. Dérive des composants dans le temps
1.3.3. Erreurs corrigeables
2. Calibration
2.1. Definition
2.1.1. Correction des Erreurs Systématiques
2.1.2. Plan de Cal : position de la cal dans le setup de mesure
2.2. Matériel
2.2.1. Kits de cal Mécanique / Electronique
2.2.2. Standards Open, Short, Load et Thru
2.3. Types de Cal
2.3.1. Response
2.3.2. One Port
2.3.3. Full 2 Ports
2.3.4. TRL (Throught Reflect, Line)
3. Mesure
3.1. Phase
3.2. Amplitude
4. Architecture
4.1. Génération d'un stimulus de test
4.1.1. Source
4.2. Séparation par Coupleurs
4.2.1. Incident
4.2.2. Transmis
4.2.3. Réfléchi
4.3. Détection
4.3.1. Détection à diode
4.3.1.1. Moins Couteux
4.3.1.2. Mesure sur toute la bande de fréquence
4.3.1.3. Moins bonne dynamique
4.3.1.4. Idéal pour mesure de composant à transposition de fréquence
4.3.2. Détection à transposition de fréquence
4.3.2.1. Plus onéreux
4.3.2.2. Meilleure sensibilité
4.3.2.3. Meilleure dynamique
4.4. Traitement et Affichage
4.4.1. ADC, DSP
4.4.2. Micro Processor, Display